為半導體工業(yè)提供從設(shè)計到生產(chǎn)測試解決方案的供應(yīng)商科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation)推出高性價比、性能良好的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應(yīng)用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設(shè)備的推出強化了科利登市場的Sapphire測試平臺。
       Sapphire D-6432DFT設(shè)備是用于高速串行總線的集成測試解決方案，在一次插入中結(jié)合了高速環(huán)路測試、抖動測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數(shù)測量。D-6432DFT的密度比同類產(chǎn)品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設(shè)計(DFT)方法，助其降低高速半導體器件的總體成本并縮短上市時間。
       Sapphire D-6432DFT有效地應(yīng)用了創(chuàng)新的遠端環(huán)路技術(shù)，既具有可測性設(shè)計的靈活性，又有功能測試所具備的深層診斷能力。通過將待測器件置于高性價比的智能測試設(shè)備通道中，延長了反饋路徑，也實現(xiàn)了高速總線在生產(chǎn)級的測試。與以往那種投資多臺設(shè)備測試少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了廣泛的功能，可在單臺設(shè)備上測試多達16個通道。其優(yōu)勢包括：
       每一通道通過集成電路實現(xiàn)同時的、并行的抖動注入和抖動測量，并不需要附加設(shè)備
       電壓和時間域中的全封閉眼圖測試
       除了極低成本的差分測試，還集成了用于掃描/功能性測試的400/800Mbps數(shù)據(jù)子系統(tǒng)
       增加了解決信號完整性問題的靈敏度覆蓋檢測
       接收器和發(fā)送器通道可用來為內(nèi)核邏輯和協(xié)議堆棧提供測試向量
       用于全面DC參數(shù)測試的器件管腳存取
       Sapphire D-6432DFT設(shè)備現(xiàn)已投放市場。