半導體測試公司惠瑞捷日前宣布，日本沖電氣工業株式會社OKI已選用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案以測試其高集成度無線通信芯片。OKI的芯片目前已被消費電子制造商廣泛地應用于各種終端產品的制造當中，其中包括：機頂盒，手機，掌上電腦和其它無線產品等等。OKI亦利用其在封裝技術方面的優勢向其它制造商提供封裝與測試服務，而Port Scale射頻測試方案將為OKI的測試服務業務進一步提供更多價值。惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案憑借其獨到的性能、具有優勢的測試成本、v93000平臺的可靠性和可擴展性以及遍布全球的高質量應用測試服務支持終獲得OKI的青睞，在眾多候選方案中脫穎而出。
      
       OKI是批采用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案的公司之一，惠瑞捷的Port Scale射頻測試解決方案的推出符合市場迅速增長的需求。目前十大射頻半導體供應商中有八家正以Port Scale射頻方案開發并超過25種各類產品，準備在未來數月內投入量產。這些芯片包括含當今有挑戰性的3G和4G技術，如UWB和WiMAX技術，藍牙，GPS導航以及ZigBee等。
      
       “為了繼續向我們的客戶提供質量的芯片以幫助他們滿足當今復雜高速無線通信的應用需求，我們需要一個可靠性高，測試成本更低且能有效加快量產化速度的測試解決方案。” OKI株式會社ATP制造部門總經理Katsumi Onaru先生表示：“Port Scale 射頻測試解決方案很好地為滿足了我們對于性能，成本和支持的要求，令我們在這些領域都能夠從容應付挑戰。v93000平臺固有的靈活性意味著它同樣能滿足我們的客戶對于未來下一代設備的需求”。
      
       “憑借Port Scale射頻測試解決方案，惠瑞捷已經率先帶來了業內套整合探頭的多端口測試方案，以此為高集成度射頻設備提供高性價比的測試。”。惠瑞捷半導體科技公司業務與服務支持副總裁Pascal Ronde指出：“我們很高興OKI選用了已被許多其它公司采用并一致認可的Port Scale 射頻測試解決方案，在這些公司的共同推動之下，Port Scale將能迅速成為測試包括的3G和4G技術在內的全范圍復雜射頻系統芯片和射頻系統級封裝的新標準。”
      
       關于惠瑞捷Port Scale 射頻測試解決方案
      
       基于v93000 soc測試平臺的Port Scale射頻測試解決方案提供了經濟，有效且可靠的射頻測量能力，這一全能型測量平臺能夠對于內含整合射頻、混合信號、數字、電源管理、以及嵌入式或堆疊式內存的各類的高集成度芯片實施測量。而Port Scale射頻解決方案是目前能夠滿足3G，4G以及高集成度射頻設備對于高容量、多點并行測試要求的方案，同時也是這些產品進行量產可行性測試必不可少的平臺。
      
       解決方案包括：
      
       ——具有的高效率的多點并行測試能力的高產量射頻測量儀器
      
       ——業已證實的性能，可重復性和穩定性，所有這些均能改善芯片成品率和測試質量
      
       ——可擴展，并行測試