羅德與施瓦茨公司(R&S)全新的高速數(shù)字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達(dá)40MHz的數(shù)據(jù)速率以及1.5GB的存儲(chǔ)容量。測試電子組件所需要的激勵(lì)信號(hào)、期望值以及實(shí)測值都可以存儲(chǔ)在本地。由于模塊內(nèi)部能實(shí)時(shí)對比實(shí)測值與期望值，記錄的測試數(shù)據(jù)不再需要傳送到系統(tǒng)控制器，因此節(jié)約了大量的測試時(shí)間。

       R&S TS-PHDT，這個(gè)小巧的測試模塊是由羅德與施瓦茨公司和Atmel的射頻與汽車業(yè)務(wù)部緊密合作共同開發(fā)的；是專為電子組件日趨復(fù)雜的數(shù)字電路的功能測試而設(shè)計(jì)的。另外，測試與測量儀器也必須滿足當(dāng)前技術(shù)對記憶深度、實(shí)時(shí)性以及等級(jí)編程的需求。而R&S TS-PHDT則是市場上款基于PXI的滿足此類應(yīng)用的解決方案。

       在功能測試的初始化時(shí)，首先，針對該被測件(DUT)的所有激勵(lì)信號(hào)的參數(shù)以及期望值都被一次性的傳送到測試模塊內(nèi)部1.5GB的存儲(chǔ)介質(zhì)上(3×64M采樣)。另外，該模塊還允許用戶在微控制器的非易失性記憶體(NVRAM)或Flash內(nèi)進(jìn)行編程，用來仿真數(shù)字控制器或處理器總線。

       R&S TS-PHDT是一款非常小巧的高速數(shù)字測試模塊；它僅僅占用R&S CompactTSVP平臺(tái)的一個(gè)插槽。通過軟面板以及DLL格式的驅(qū)動(dòng)，就可以對它進(jìn)行操作。測試平臺(tái)與該模塊的接口則是PCI總線。其PXI觸發(fā)功能使得它可以同步到其他R&S TS-PHDT模塊以及羅德與施瓦茨公司或者其他公司的基于PXI的測量或激勵(lì)模塊，這樣可以很容易地?cái)U(kuò)展其數(shù)字通道的個(gè)數(shù)，從而滿足對模擬和數(shù)字信號(hào)的其它測試需求。

       R&S TS-PHDT高速數(shù)字測量模塊現(xiàn)已上市。