FormFactor聲稱已經開發出突破性的探針測接(probing contact)新技術。與當前的探針能力相比，FormFactor的新技術將間距縮小10倍，在300毫米的晶片上獲得1000倍的接點。
      
       這個新技術能夠用于內存、邏輯、SOC和參數測試應用。FormFactor的新技術能夠將面分布(contactor pitch)從200微米將小到不到20微米。
      
       這種MEMS contactor新技術預計將在3到5年內推向市場。