JTAG是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議，主要用于芯片內(nèi)部測試。這是一種用來進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了標(biāo)準(zhǔn)。那么大家對JTAG知道多少呢？粵嵌長沙嵌入式培訓(xùn)帶你了解一下。

　　大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。如果系統(tǒng)采用的是復(fù)雜FPGA或CPLD，那么幾乎可以肯定這些硬件是通過JTAG端口設(shè)置的。如果系統(tǒng)利用仿真工具來調(diào)試硬件或軟件，那么仿真工具也很可能是通過JTAG端口與微處理器對話。而且，如果系統(tǒng)中采用了球柵陣列(BGA)封裝的IC，那么JTAG也是測試BGA器件與底層印制電路板之間連接的有效方法。

　　支持EEE?1149.1邊界掃描測試標(biāo)準(zhǔn)的IC與電路板都具備一個(gè)支持JTAG測試的4線串行總線(第5條線為可選的復(fù)位線)-TDI(測試數(shù)據(jù)輸入)、TDO(測?試數(shù)據(jù)輸出)、TMS(測試模式選擇)與TCK(測試時(shí)鐘)。該總線主要支持對焊點(diǎn)、電路板過孔、短路和開路等連接進(jìn)行結(jié)構(gòu)測試。此外，許多CPLD和?FPGA制造商也將JTAG作為其器件在系統(tǒng)編程與配置的標(biāo)準(zhǔn)方法。JTAG不但支持結(jié)構(gòu)(互連)測試，如今還是一種用于在系統(tǒng)級實(shí)現(xiàn)配置、編程以及混合信號測試的標(biāo)準(zhǔn)方法。

　　但大多數(shù)設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)都在新設(shè)計(jì)中對JTAG的應(yīng)用更傾向于不一步到位，而是以一種更易掌控的方式慢慢轉(zhuǎn)為全面利用JTAG接口。有些團(tuán)隊(duì)規(guī)則中廣泛利用了JTAG接口，有些則只利用了其中很有限的一部分。但每種規(guī)則都根據(jù)其自身的需要調(diào)整JTAG，在各種規(guī)則的共同作用下，發(fā)展出了幾代不同的JTAG應(yīng)用，每一代JTAG應(yīng)用都有各自的特點(diǎn)，具有某種增強(qiáng)功能。

　　由于存在各種各樣的JTAG接入要求，所以開發(fā)團(tuán)隊(duì)必需采用一種跨規(guī)則的JTAG接入策略以地發(fā)揮JTAG接入的功能。這種策略對于實(shí)現(xiàn)一種標(biāo)準(zhǔn)方法非常必要，這種標(biāo)準(zhǔn)方法可以復(fù)用，并且下一代產(chǎn)品可以基于其構(gòu)建。為了更好地理解這種方法，我們將探討在不同年代的系統(tǒng)開發(fā)與設(shè)計(jì)中是如何使用JTAG的，目的是通過借助過去有關(guān)JTAG接入的經(jīng)驗(yàn)或投入，推動(dòng)設(shè)計(jì)向新一代發(fā)展。

　　迄今為止，JTAG應(yīng)用與集成中存在的障礙，就是如何讓人們認(rèn)識(shí)到需要一種基于多個(gè)開發(fā)規(guī)則的策略，并使管理者相信這種策略能夠帶來經(jīng)濟(jì)效益。一旦跨出了這一步，并且采用了?ATPG支持和JTAG復(fù)用器件，那么就更容易一步步或一代代地循序漸進(jìn)評估或?qū)崿F(xiàn)新的JTAG功能。而且，如果開發(fā)團(tuán)隊(duì)能夠基于先前應(yīng)用JTAG的經(jīng)驗(yàn)，就能更好地發(fā)揮JTAG總線的功用。

　　對于粵嵌長沙嵌入式培訓(xùn)帶你了解的JTAG相信大家了解了。想要更快地實(shí)現(xiàn)你的嵌入式夢，粵嵌這里可以更快帶你入行。